| 产品特性：分析仪 | 是否进口：否 | 产地：日本 |
| 加工定制：否 | 品牌：安藤 | 型号：AQ8423Z |
| 测量范围：2 | 测量精度：3 | 产品用途：4 |
AQ8423Z光放大器分析仪、AQ8423Z安藤回收 AQ8423Z光放大器分析仪、AQ8423Z安藤回收
AQ8423Z光放大器分析仪、AQ8423Z安藤回收
NI-PXIE-8135
AQ8423Z
AQ8423Z光放大器分析仪，它覆盖C带和L带波长，能与AQ6317系统光谱分析仪配套。它可*地测量噪声指数NF和光链路中光放大器的增益，分隔ASE光噪声和经过光放大器放大的光信号，并能达到*小光路间隔25GHz的*佳效果。当将AQ8423Z与AQ6317B联合使用时可测量多达200个光路的NF图形。*近又推出新的多波长测量仪，一次可完成多达256条光路的波长测量。总之，DWDM系统的测量技术和测试仪表正向着更多波长、更好的波长测量精度和可分辨出更小的光路间隔，即向着能满足未来更高波分密度、更巨大的网络容量的传输设备的要求发展。
NI-PXI-2503
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